主持课题: 企业关键技术开发项目(500万): 锗硅微光CMOS图像传感显示模块雏形研发(2022.1-2024.7) 国家自然科学基金(30万): 全键合长波长InGaAs/Si单光子雪崩探测器基础研究(2021.1-2023.12) 虚拟仿真实验室建设资金(35.8万) 集成电路制造工艺虚拟仿真实验设计与开发(2021.9-2023.9) 创新平台运行经费(10万): 硅基光电芯片研发创新平台(2022.6-2023.6) 福建省自然科学基金(7万): Si基GeSn短波红外全光谱PIN光电探测器基础研究(2021.1-2023.12) 漳州市自然科学基金(2万): InGaAs/Si异族键合基础研究(2020.01.01-2022.12.31)
代表论文: 1. Ke S, et al. Vacuum, 2022, 203: 111269. 2. Ke S, et al.. IEEE Transactions on Electron Devices, 2022, 69: 1123. 3. Li X, et al. ACS Applied Energy Materials, 2022, 5: 8709.(通讯作者) 4. Ye S, et al. Optical Materials, 2022, 131: 112645. (通讯作者) 5. D Huang, et al. Applied Surface Science, 2021, 568: 150979. (通讯作者) 6. D Huang, et al. Vacuum, 2022, 196: 110735. (通讯作者) 7. Li Z, et al. Semicond. Sci. Technol., 2021, 36: 095005. (通讯作者) 8. Ke S, et al. IEEE Transactions on Electron Devices, 2021, 68(4): 1694. 9. Ke S, et al. Journal of Physics D: Applied Physics, 2020, 53(32): 323001 10. Ke S, et al. Journal of Physics D: Applied Physics, 2020, 53(16): 165109. 11. Ke S, et al. Semiconductor Science and Technology, 2020, 35(3): 035012. 12. Ke S, et al. Vacuum, 2020, 172: 109047. 13. Ke S, et al. Applied Physics Letters, 2018, 112(4): 041601. 14. Ke S, et al. Optics Express, 2016, 24(3): 1943. 15. Ke S, et al. Journal of Physics D-Applied Physics, 2017, 50(5): 055106. 16. Ke S, et al. Journal of Physics D-Applied Physics, 2017, 50(40): 405305. 17. Ke S, et al. Journal of Physics D-Applied Physics, 2018, 51(26): 265306. 18. Ke S, et al. IEEE Transactions on Electron Devices, 2017, 64(6): 2556. 19. Ke S, et al. IEEE Transactions on Electron Devices, 2019, 66(3): 1353. 20. Ke S, et al. Applied Surface Science, 2018, 434: 433. 21. Ke S, et al. Applied Surface Science, 2015, 328: 387. 22. Ke S, et al. Journal of Materials Science, 2019, 54(3): 2406. 23. Ke S, et al. Nanotechnology, 2015, 26(44): 445602. 24. 中国科学: 物理学, 力学, 天文学, 2021, 51(3): 41-53. 25. 光子学报, 2021, 51(2): 0251218. (通讯作者) 26. 光学学报, 2020, 40(19): 1931001. (通讯作者) 27. 光子学报, 2020, 49(10): 1025002. (通讯作者) 28. 硅酸盐学报, 2021, 49(1): 174. (通讯作者)
发明专利: 1. 利用非晶锗薄膜实现低温Si‑Si键合的方法 2. 弱键合强度脆性键合样品截面透射电子显微镜制备方法 3. 一种无界面气泡绝缘层上锗键合方法 4. 一种耐高温高质量SOI基剥离Ge薄膜的制备方法 5. 一种无气泡无穿透位错Ge/Si异质混合集成方法 6. 一种超高质量SOI基键合Ge薄膜的制备方法 7. 一种提高剥离Si基和SOI基Ge薄膜质量的方法 8. 一种实现晶格阻断的零气泡Ge/Si异质混合集成方法 9. 一种无气泡坑超高质量SOI基Ge薄膜异质键合方法
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